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上海楹點檢測設備有限公司
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CMX DL+測厚儀
The CMX DL+ 測厚儀不僅有MVX的所有功能，而且還有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。
測量方式（僅測量基體厚度、同時測量基體和涂層的厚度、僅測量涂層厚度）
顯示模式（數字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>）
增益可調節：**低、低、中、高、**高
上海楹點檢測設備有限公司提供儀器維修，產品帶檢，技術培訓，產品配件選型，儀器說明書.由于公司經營品牌產品太多，為了節約您的時間，價格貨期請直接聯系我們客服獲取產品信息。
增益值可到110dB
自動增益控制（AGC）
時間增益校正（TCG）
探頭自動識別，自動調零和溫度補償
較大值、較小值顯示
可存儲64個用戶參數設置
高速掃查（50次/秒）
高達140HZ的脈沖重復頻率
B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀
A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）
差值測量模式
高速掃查功能可用于快速找到壁厚的較小值
上/下限聲光報警功能
數據存貯：可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數
可通過軟件與計算機進行數據交換，方便用戶打印檢測報告
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
帶自動溫度補償的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多層測量(PECT)方式：0.63－508mm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）
穿透涂層測量(E-E)模式：2.54 —102mm（因涂層的不同會有所變化）
僅測量涂層(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會有所變化）