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上海楹點檢測設備有限公司
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DLS-2干耦合延遲塊
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專為使用可更換延遲塊的應用而設計。
優勢特性：
高阻尼探頭加上延遲塊可以提供出色的近場分辨率
較高的探頭頻率可提高分辨率
直接接觸法的使用提高了測量薄材料及發現細小缺陷的能力
提供弧面外形，以適用于曲面工件
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精確測厚
垂直聲束缺陷探測
對接觸區域有限的工件進行檢測
可更換式延遲塊探頭
每個探頭的標準配置都包含一個延遲塊和固定環
提供高溫延遲塊和干耦合延遲塊
探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑
| 頻率 | 晶片尺寸 | 探頭 工件編號 | |
| 兆赫 | 英寸 | 毫米 | |
| 2.25 | 0.25 | 6 | V204-RM |
| 5.0 | 0.50 0.25 | 13 6 | V206-RM V201-RM |
| 10 | 0.25 0.125 | 6 3 | V202-RM V203-RM |
| 15 | 0.25 | 6 | V205-RM |
| 20 | 0.125 | 3 | V208-RM |
| 標稱晶片尺寸 | 標準 延遲塊 | 高溫 | 干耦合 延遲塊 | 備用 固定 環 | 彈簧 加載 支架 | |||
| 較高350°F (175°C) | 較高500°F (260°C) | 較高900°F (480°C) | ||||||
| 英寸 | 毫米 | |||||||
| 0.50 | 13 | DLH-2 | DLHT-201 | DLHT-2 | DLHT-2G | DLS-2 | DRR-2 | 2130 |
| 0.25 | 6 | DLH-1 | DLHT-101 | DLHT-1 | DLHT-1G | DL | DRR-1 | 2127 & DRR-1H |
| 0.125 | 3 | DLH-3 | DLHT-301 | DLHT-3 | DLHT-3G | DLS-3 | DRR-3 | 2133 & DRR-3H |
聚焦式可更換延遲塊 特小的端部直徑可以提高檢測曲面和小凹痕的性能 手柄可以較方便地定位探頭的頭部
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彈簧加載的支架 |
| SLH-V260-SM* |
這些高頻、聚焦式延遲塊探頭與任何能夠顯示鋼中低至0.010英寸深度的回波的超聲儀器相兼容。典型的范圍約為鋼中0.010英寸到0.250英寸。0.060英寸的圓形接觸面可以在曲面上獲得讀數。這類探頭的典型應用包括渦輪葉片、小直徑管子和小零件的凹陷區域。兩種探頭都使用可更換式延遲端部。為了使探頭發揮較好的性能，應該使用短電纜（如：6英尺長的MB型電纜）。這些型號探頭的工件編號以“L”結尾，都采用PowerLink技術，以確保在與Sonic超聲儀器一起使用時發揮出色性能。
HC-876超聲探頭工作頻率高（20 MHz），帶寬較寬，且接觸面很小。其主要應用是測量關鍵部件的厚度，如：噴氣發動機的葉片。這款探頭配備了一個Microdot連接器。
可更換式延遲塊 | ||||
頻率 | 標稱晶片尺寸 | 工件編號 | ||
（兆赫） | 英寸 | 毫米 | 平直手柄 | 直角手柄 |
10 | 0.125 | 3 | HC-398-RDL-L | HC-398-RA-RDL-L |
替代端部（10 ms） | HAX-398 | HAX-398 | ||
| HC-398-RDL-L平直手柄 |
| HC-398-RA-RDL-L直角手柄 |
*性延遲塊 | ||||
頻率 | 標稱晶片尺寸 | 工件編號 | ||
（兆赫） | 英寸 | 毫米 | 平直手柄 | 直角手柄 |
20 | 0.125 | 3 | HC-876-L | HC-876* |
HC-876-RA-L | ||||
| *性延遲端部（10 ms）* 不與PowerLink相兼容。 | ||||
HC-876-L平直手柄 | ||||||||||||||||||||||||||
| HC-876-RA-L直角手柄 | ||||||||||||||||||||||||||
帶有手柄組合件的*性延遲塊探頭這些探頭用于進入狹小的空間進行探測，如：相鄰的渦輪葉片之間的區域。其旋轉頭提高了在狹小區域的接觸能力。
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