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上海楹點檢測設備有限公司
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TH2839 精密阻抗分析儀
RS-232、USBHOST、USBDEVICE、HANDLER、LAN
GPIB、SCANNER
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性能特點
■ 測試頻率：20Hz-10MHz，分辨率：較高1mHz
■ 測量精度：0.05%
■ 測試速度：較快7.7ms/次
■ 測試原理：自動平衡電橋
■ 高穩定性和一致性：高達15個測試量程配置
■ 高分辨：7英寸，800×480分辨率
■ 多功能參數列表掃描
■ 多參數圖形化掃描功能
■ 變容二極管自動極性功能
■ Ls-RDC同時測試
■ 10檔分選功能，分選結果聲光報警
■ 存儲空間：內置：40組設定文件USB擴展：500組設定文件
數據記錄文件、圖片文件
■ 高兼容性：支持SCPI指令集兼容KEYSIGHT E4980A、
E4980AL、HP4284A等
應用
■ 無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析
■ 半導體元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
■ 其它元件:
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■ 磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料:
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
產品型號
TH2839
TH2839A
測試信號源
信號源輸出阻抗
100Ω， ±1% @1kHz
測試頻率
范圍
20Hz-10MHz 20Hz-5MHz
分辨率
20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz
100.000Hz - 999.999Hz 10mHz
1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz
10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz
100.000kHz - 999.999kHz 10Hz
1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz
AC測試信號模式
額定值(ALC OFF)：設定電壓為測試端開路時Hcur電壓
設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流恒定值(ALC ON)： 保持DUT上電壓與設定值相同
保持DUT上電流與設定值相同
AC信號
電壓范圍
F≤ 1MHz 5mVrms- 2Vrms
F >1MHz 5mVrms - 1Vrms
分辨率
5mVrms - 0.2Vrms 100μVrms
0.2Vrms - 0.5Vrms 200μVrms
0.5Vrms - 1Vrms 500μVrms
1Vrms - 2Vrms 1mVrms
電流范圍
50μArms - 20mArms
分辨率
50μArms - 2mArms 1 μArms
2mArms - 5mArms 2 μArms
5mArms - 10mArms 5 μArms
10mArms - 20mArms 10μArms
Rdc測試
電壓范圍
100mV - 2V
分辨率
100μV
電流范圍
0mA - 20mA
分辨率
1μA
DC偏置
電壓范圍
0V - ± 40V
分辨率
0V - 5V 100μV
5V - 10V 1mV
10V - 20V 2mV
20V - 40V 5mV
電流范圍
0mA - ± 100mA
分辨率
0 A - 50mA 1μA
50mA - 100mA 10μA
電壓源
電壓范圍
-10V - 10V
分辨率
1mV
電流范圍
-45mA - +45mA
輸出阻抗
100Ω
顯示器
尺寸/類型
7英寸 (對角線)TFT LCD顯示器
比例
16：9
分辨率
800×RGB×480
測量功能
測試參數
Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp
Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs
Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc
Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc
R-X, Z-θd, Z-θr
G-B, Y-θd, Y-θr
Vdc-Idc
數學功能
A(X+B)+C， X為測試參數，A、B、C為輸入參數
等效電路
串聯、并聯
偏差測量
與標稱值的**偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%
校準功能
開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
量程選擇
自動AUTO、手動HOLD
量程
LCR
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、 50kΩ、100kΩ，共15檔
Rdc
1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ，共15檔
觸發模式
INT、MAN、EXT、BUS
觸發延遲
0 s - 999 s，分辨率100μs
測試端配置
四端對
測試電纜長度
0m, 1m, 2m
測量平均
1-255次
測量時間
(ms)
速度模式
20Hz
100Hz
1kHz
10kHz
100kHz
1MHz
10MHz
FAST
330
100
20
7.7
5.7
5.6
5.6
MED
380
180
110
92
89
88
88
LONG
480
300
240
230
220
220
220
測量顯**圍 a 1×10-18； E 1×1018
Cs, Cp
±1.00000 aF - 999.999 EF
Ls,Lp
±1.00000 aH - 999.999 EH
D
±0.00001 - 9.99999
Q
±0.01 - 9999.99
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc
±1.00000 aΩ - 999.999 EΩ
G,B,Y
±1. 00000 aS - 999.999 ES
Vdc
±1.00000 aV - 999.999 EV
Idc
±1.00000 aA - 999.999 EA
θ r
±1.00000 rad - 3.14159 rad
θ d
±0.0001 deg - 180.000 deg
Δ%
±0.0001% - 999.999%
基本測量準確度
0.05%(詳見說明書)
列表掃描
掃描點數
較多201點
多參數掃描
每個掃描點均可任意設置功能（主、副參數）、頻率、AC電平、DC偏置（電壓或電流）、速度等常規測試參數；每個掃描點均支持開路、短路、負載校準；掃描結果列表可任意選擇所需顯示參數。
觸發模式
順序SEQ
當一次觸發后，在所有掃描點測量。/EOM/INDEX只輸出一次。
步進STEP
每次觸發執行一個掃描點測量。每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出。
列表掃描比較器
可為每個掃描點設置一對下限和上限。
主副參數均有上下限合并分選，不設置不分選。
列表掃描時間標記
在順序模式中，將觸發點設定為0時，通過定義時間就可在每個測量點記錄測量開始的時間。
圖形掃描分析
掃描點數
51、101、201、401、801點可選
掃描軌跡
主/副參數可選擇
顯**圍
自動、鎖定
坐標標尺
對數、線性
掃描參數
頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源
掃描結果顯示
主/副參數較大值/較小值、設**主/副參數值
掃描圖形存儲
掃描圖形可存儲于儀器內部FLASH、外部USB存儲器或上傳上位機。
比較器
Bin分檔
主參數
9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT
副參數
HIGH、IN、LOW
Bin極限設置
**值、偏差值、百分偏差值
Bin計數
0 - 999999
PASS/FAIL指示
滿足主參數為9 BIN之一、副參數為IN，板PASS燈ON，否則FAIL ON
測量輔助功能
數據緩沖存儲功能
201個測量結果可分批讀取
保存/調用功能
40組儀器內置非易失存儲器測試設定文件
500組儀器USB存儲器測試設定文件/截屏圖形/記錄文件
鍵盤鎖定功能
可鎖定板按鍵
接口
USB HOST端口
通用串行總線插座，A類；FAT16/FAT32格式。U盤存儲或條形碼掃描
USB DEVICE端口
通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USBTMC-USB488和USB 2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。
LAN
10/100BaseT以太網，8引腳，兩種速度選擇
HANDLER接口
用于Bin分檔信號輸出
外部DC BIAS控制
控制TH1778/TH1778S偏置電流源，較多一臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX)
RS232C
標準9針，交叉
GPIB (選件)
24針D-Sub端口（D-24 類），陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容。
SCANNER(選件)
與TH2819X、TH2829X SCANNER接口兼容
注：測試信號電平： 0.3Vrms – 1Vrms
文本框: 元器件參數測試儀文本框: -文本框: 阻抗分析儀 上部數值（無括號的數值）適用于中速和慢速， 下部數值（括號中的數值）適用于快速。